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            北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

            PRODUCT DISPLAY

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            JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡

            參  考  價:面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號:JSM-IT500

            品       牌:其他品牌

            廠商性質(zhì):代理商

            所  在  地:北京市

            更新時間:2024-09-23 16:24:16瀏覽次數(shù):3726次

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
            二次電子圖象分辨率 3.0nm(30kv)、8nm(15kv)、15.0nm(1.0kv)nm 放大倍數(shù) 5-300000x
            加速電壓 0.5kv~30kvkV 價格區(qū)間 150萬-200萬
            儀器種類 鎢燈絲 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,電子/電池
            JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡是JEOL InTouchScope系列推出的新機型。
            從選定興趣視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用方便的掃描電子顯微鏡。

            JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡是JEOL InTouchScope系列的新機型。
            從選定興趣視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用方便的掃描電子顯微鏡。

            JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡的特點及功能介紹:

            3個關(guān)鍵點 使日常分析更迅速!更簡便!

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            關(guān)鍵點2 實時分析 (僅限于A/LA)
            在圖像觀察過程中,進行EDS分析。
            EDS譜圖顯示在觀察窗口中, 如果給感興趣的元素加上alert ,會更容易發(fā)現(xiàn)。

            關(guān)鍵點3 數(shù)據(jù)集中管理軟件
            數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標或者從測試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù),一鍵就能生成報告。

            關(guān)鍵點1 Zeromag

            從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和分析位置。尋找視野非常輕松, 多視野連續(xù)分析的位置也很容易。

            光學CCD圖像和SEM圖像的wan美結(jié)合和無縫操作使工作效率大大提高!

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            利用Zeromag能簡便自動地進行大區(qū)域SEM觀察和EDS分析

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            利用Zeromag設(shè)置蒙太奇

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            蒙太奇結(jié)果 4×4 (左:背散射電子成份像 右:Ca元素面分布圖)
            樣品:混凝土 加速電壓:15kV 高真空模式 拍攝區(qū)域:約4mm×3mm

            利用Zeromag很容易設(shè)定大面積的蒙太奇區(qū)域,有利于成像和觀察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區(qū)域中識別異物等從大面積區(qū)域上獲取詳細信息時非常有效。

            關(guān)鍵點2 實時分析    SEM和EDS一體化集成     

            在SEM圖像觀察過程中,進行EDS分析                      

            利用Live Analysis功能,可在觀察窗口中進行被觀察區(qū)域的EDS分析。可以很容易地找到自己感興趣的元素,還能發(fā)現(xiàn)意料之外的元素。

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            ①顯示存在于測試區(qū)域中的主元素。能元素并顯示“Alert”。

            ②會顯示分析區(qū)域的特征X射線譜圖和自動定性分析結(jié)果。

            ③一鍵點擊就可以在電鏡操作界面和詳細分析顯示界面間切換。

             

            關(guān)鍵點3 數(shù)據(jù)集中管理軟件SMILE VIEW™ Lab     無縫創(chuàng)建報告                  

            SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺位置聯(lián)動的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析,生成報告等都非常簡便。

            ①顯示各個視野的名稱。

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            ②能根據(jù)樣品名、創(chuàng)建日期和數(shù)據(jù)類型等搜索數(shù)據(jù)。

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            ③在樣品座圖形或CCD圖像上顯示各個視野的位置。

            ④會列表顯示被選區(qū)域的元素圖、譜圖等的數(shù)據(jù)和定量分析結(jié)果等。

            圖片9.jpg

            技術(shù)參數(shù)

             

            分辨率 高真空模式

            3.0 nm (30 kV)  15.0 nm (1.0 kV)

            低真空模式*1

            4.0 nm (30 kV BED) 

            圖像倍率

            ×5~×300,000
              (以128 mm × 96 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率)

            顯示倍率

            ×14~×839,724
              顯示器上的圖像倍率(以358 mm × 269 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率)

            電子槍

            鎢燈絲 電子槍*自動合軸

            加速電壓

            0.3kV~30kV

            低真空壓力設(shè)定范圍※1 

            10~650Pa

            物鏡光闌

            3檔  帶有XY微調(diào)功能

            自動功能

            燈絲調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整,聚焦、像散、襯度/亮度調(diào)整

            大樣品尺寸

            200 mm直徑×75 mm高度
              200 mm直徑×80 mm高度※選配件
              32 mm直徑×90 mm高度 ※選配件

            樣品臺

            大型全對中式
              X:125 mm Y:100 mm Z:80 mm
              傾斜:-10~90° 旋轉(zhuǎn):360°

            圖像無縫拼接功能

            標配

            顯示測試位置座標

            直徑203 mm

            標準菜譜

            有(包括EDS條件 ※2)

            圖像模式

            二次電子像、REF像、成份像*1、形貌像*1、陰影像*1

            獲取圖像的像素數(shù)

            640x480  1,280x960 
              2,560x1920  5,120x3,840

            OS

            Microsoft®Windows®10 64bit 

            顯示器

            23寸觸摸屏

            EDS   功能*2

            譜圖分析、定性分析/定量分析、線分析(水平線分析、任意方向線分析)元素面分布、電子束追蹤等

            測長功能

            有(兩點間距離、平行線間距離、角度、直徑等)

            數(shù)據(jù)管理功能

            SMILE VIEW™ Lab

            生成報告功能

            SMILE VIEW™ Lab

            語言切換

            可以在UI 上(日語/ 英語)

            抽真空系統(tǒng)

            *自動 TMP:1   臺、RP:1臺或2臺※1 

            備注:Windows10 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標或商標

            主要選配件

            背散射電子檢測器(BED) ※1

            低真空二次電子檢測器(LSED)能譜儀(EDS)※2

            波譜儀(WDS)

            電子背散射衍射檢測器(EBSD)

            加載互鎖真空室(預抽室)

            樣品臺導航系統(tǒng)(SNS)

            樣品室觀察系統(tǒng)(CS)

            操作面板

            3D測量軟件操作臺

            ※1 為JSM-IT500LV/LA的標配功能。
            ※2 為JSM-IT500LV/LA的標配功能。

             

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